FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja merna tačka i najviša preciznost: za sitne, ravne komponente i višeslojne sisteme.
Više informacijaFISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
Specijalizovano rešenje za automatsko merenje tankih slojeva i višeslojnih sistema na pločicama (wafer) od 6 do 12 inča.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER
XDV-µ WAFER namenjen je automatskom merenju tankih slojeva i višeslojnih sistema na pločicama promera od 6 do 12 inča. Automatsko prepoznavanje slike omogućava pouzdano merenje malih struktura.
Ključna svojstva
- Polikapilarna optika sopstvene proizvodnje: Fischer je jedini proizvođač XRF uređaja sa sopstvenom proizvodnjom polikapilarnih leća
- DPP+ obrada signala: do 50 % bolja ponovljivost ili znatno kraće vreme merenja
- Automatsko prepoznavanje slike za pouzdano merenje malih struktura
Tehnički podaci
- Merna tačka
- Od 10 µm (FWHM)
- Optika
- Polikapilarna: 10 µm bez haloa, 17 µm bez haloa ili 17 µm sa haloom
- Primena
- Pločice 6–12 inča
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja merna tačka pri najvećoj mernoj udaljenosti: za merenje najmanjih komponenti.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za štampane pločice: pouzdano i potpuno automatsko merenje najmanjih struktura.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savetom.