FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Najmanja merna tačka i najviša preciznost: za sitne, ravne komponente i višeslojne sisteme.
Više informacijaFISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI
Rendgenski sistem za potpuno automatizovano merenje mikrostruktura na waferima do 12 inča.
FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI
XDV-µ SEMI optimalno je rešenje za potpuno automatizovanu kontrolu mikrostruktura na waferima. Pogodan je za merenje debljine i elementnu analizu osnovnih metalizacija u nanometarskom opsegu, C4 lemnih kuglica, lemnih kapica bez olova na bakarnim stubićima, malih kontaktnih površina i 2,5D/3D pakovanja. Usklađen je sa relevantnim SEMI standardima i idealan za nadzor procesa u proizvodnji.
Tehnički podaci
- Namena
- Wafer do 12 inča; najmanje strukture, vrlo tanki i višeslojni sistemi
- Rendgenska cev
- Mikrofokusna cev Ultra sa volframovom anodom (opciono molibden), 4-struko zamenjiv filter
- Merna tačka
- Polikapilarna optika, otprilike 10 ili 17 µm (poluširina)
- Detektor
- Silicijumski driftni detektor 20 mm² ili 50 mm², Peltijeovo hlađenje
- Interfejsi
- Standardizovana SECS/GEM komunikacija
Slični proizvodi
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD
Najmanja merna tačka pri najvećoj mernoj udaljenosti: za merenje najmanjih komponenti.
Više informacija
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Profesionalna serija za štampane pločice: pouzdano i potpuno automatsko merenje najmanjih struktura.
Više informacijaZanima vas ovaj proizvod?
Pošaljite upit, a mi ćemo odgovoriti konkretnom ponudom ili savetom.